(चीन) YYP 20KN इलेक्ट्रॉनिक युनिव्हर्सल टेन्शन मशीन

संक्षिप्त वर्णन:

1.वैशिष्ट्ये आणि उपयोग:

२० केएन इलेक्ट्रॉनिक युनिव्हर्सल मटेरियल टेस्टिंग मशीन हे एक प्रकारचे मटेरियल टेस्टिंग उपकरण आहे

देशांतर्गत अग्रगण्य तंत्रज्ञान. हे उत्पादन धातू, अधातू, संमिश्र पदार्थ आणि उत्पादनांच्या ताण, संपीडन, वाकणे, कातरणे, फाडणे, सोलणे आणि इतर भौतिक गुणधर्मांच्या चाचणीसाठी योग्य आहे. मापन आणि नियंत्रण सॉफ्टवेअरमध्ये विंडोज 10 ऑपरेटिंग सिस्टीम प्लॅटफॉर्म, ग्राफिकल सॉफ्टवेअर इंटरफेस, लवचिक डेटा प्रोसेसिंग मोड आणि मॉड्युलर व्हीबी प्रोग्रामिंग पद्धतीचा वापर केला जातो.

सुरक्षित मर्यादा संरक्षण आणि इतर कार्ये. यात स्वयंचलित अल्गोरिदम निर्मितीचे कार्य देखील आहे.

आणि चाचणी अहवालाचे स्वयंचलित संपादन, ज्यामुळे डीबगिंग मोठ्या प्रमाणात सुलभ होते आणि त्यात सुधारणा होते.

प्रणाली पुनर्विकास क्षमता, आणि कमाल बल, उत्पन्न बल यांसारख्या पॅरामीटर्सची गणना करू शकते,

असमप्रमाणिक प्रत्यास्थता बल, सरासरी विलगन बल, स्थितिस्थापकता मापांक, इत्यादी. यात नाविन्यपूर्ण रचना, प्रगत तंत्रज्ञान आणि स्थिर कार्यक्षमता आहे. साधे संचालन, लवचिक, सुलभ देखभाल;

उच्च दर्जाचे स्वचालन आणि बुद्धिमत्ता एकाच प्रणालीत सामावली आहे. याचा उपयोग यांत्रिक गुणधर्मांसाठी केला जाऊ शकतो.

वैज्ञानिक संशोधन विभाग, महाविद्यालये आणि विद्यापीठे तसेच औद्योगिक आणि खाणकाम उद्योगांमध्ये विविध सामग्रीचे विश्लेषण आणि उत्पादन गुणवत्ता तपासणी.

आम्हाला ईमेल पाठवा

उत्पादनाचा तपशील

उत्पादन टॅग

2.तांत्रिक मापदंड:

२.१ कमाल मापन श्रेणी: २० किलोन्यूटन

बलाच्या मूल्याची अचूकता: दर्शविलेल्या मूल्याच्या ±०.५% च्या मर्यादेत

बल निराकरण: १/१००००

२.२ प्रभावी रेखांकन स्ट्रोक (फिक्स्चर वगळून) : ८०० मिमी

२.३ प्रभावी चाचणी रुंदी: ३८० मिमी

२.४ विरूपणाची अचूकता: ±०.५% च्या आत, रिझोल्यूशन: ०.००५ मिमी

२.५ विस्थापन अचूकता: ±०.५% रिझोल्यूशन: ०.००१ मिमी

२.६ वेग: ०.०१ मिमी/मिनिट ~ ५०० मिमी/मिनिट (बॉल स्क्रू + सर्वो सिस्टीम)

२.७ प्रिंटिंग फंक्शन: चाचणीनंतर कमाल बल मूल्य, तन्यता शक्ती, तुटताना होणारे प्रसरण आणि संबंधित वक्र प्रिंट केले जाऊ शकतात.

२.८ वीज पुरवठा: एसी२२०व्ही±१०% ५०हर्ट्झ

२.९ होस्टचा आकार: ७०० मिमी x ५०० मिमी x १६०० मिमी

२.१० यजमानाचे वजन: २४० किलो

३. नियंत्रण सॉफ्टवेअरच्या मुख्य कार्यांचे वर्णन करते:

३.१ चाचणी वक्र: बल-विरूपण, बल-वेळ, प्रतिबल-विकृती, प्रतिबल-वेळ, विरूपण-वेळ, विकृती-वेळ;

३.२ एकक बदलणे: N, kN, lbf, Kgf, g;

३.३ वापराची भाषा: इच्छेनुसार सरलीकृत चीनी, पारंपरिक चीनी, इंग्रजी;

३.४ इंटरफेस मोड: यूएसबी;

३.५ वक्र प्रक्रिया कार्य प्रदान करते;

३.६ बहु-सेन्सर समर्थन कार्य;

३.७ ही प्रणाली पॅरामीटर सूत्र सानुकूलनाची सुविधा पुरवते. वापरकर्ते आवश्यकतेनुसार पॅरामीटर गणना सूत्रे परिभाषित करू शकतात आणि गरजेनुसार अहवाल संपादित करू शकतात.

३.८ चाचणी डेटा डेटाबेस व्यवस्थापन मोडचा अवलंब करतो, आणि सर्व चाचणी डेटा आणि वक्र स्वयंचलितपणे जतन करतो;

३.९ चाचणी डेटाचे एक्सेल स्वरूपात भाषांतर केले जाऊ शकते;

३.१० एकाच चाचणी संचातील अनेक चाचणी डेटा आणि वक्र एकाच अहवालात मुद्रित केले जाऊ शकतात;

३.११ तुलनात्मक विश्लेषणासाठी ऐतिहासिक डेटा एकत्र जोडला जाऊ शकतो;

३.१२ स्वयंचलित कॅलिब्रेशन: कॅलिब्रेशन प्रक्रियेदरम्यान, मेन्यूमध्ये मानक मूल्य इनपुट करा, आणि

ही प्रणाली दर्शविलेल्या मूल्याचे अचूक कॅलिब्रेशन स्वयंचलितपणे करू शकते.